自古以來(lái)，人們都有一個(gè)毛病，非要分出個(gè)子丑寅卯，非左即右。在光譜儀檢測(cè)行業(yè)，也存在著：檢測(cè)器推陳出新，更新?lián)Q代，CCD定能取代PMT，COMS完敗CCD的論調(diào)。
       檢測(cè)器作為光譜儀的核心部件，其技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步往往引領(lǐng)著光譜儀的發(fā)展。電荷耦合元件(CCD)技術(shù)的應(yīng)用是光電直讀光譜儀的一個(gè)技術(shù)發(fā)展方向，采用CCD將會(huì)降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積。其次CCD最大的優(yōu)點(diǎn)是全譜，可以很方便地增加檢測(cè)元素的種類(lèi)。此外，CCD具有良好穩(wěn)定性和較長(zhǎng)的使用壽命，CCD型光電直讀光譜儀可以實(shí)現(xiàn)激發(fā)樣品時(shí)自動(dòng)完成波長(zhǎng)校準(zhǔn)，不再需要定期進(jìn)行校準(zhǔn)，采用CCD技術(shù)可實(shí)現(xiàn)模塊化、易于校準(zhǔn)、抗振動(dòng)。
       小編在幾年前的單位從事檢測(cè)工作，當(dāng)年P(guān)MT還是主流，儀器笨大。因?yàn)橐潦假?gòu)置儀器的時(shí)候?qū)@方面不是很懂，初始只為了檢測(cè)鋁基材質(zhì)，然后隨著工作的深入，需要檢測(cè)鐵基的時(shí)候，廠家說(shuō)加費(fèi)用，要拆機(jī)裝通道。“EXCUSE ME？”。
       現(xiàn)在不比當(dāng)年，運(yùn)用CCD技術(shù)的儀器已然占據(jù)大部分市場(chǎng)。但，CCD又真的能取代PMT的地位么？
       和傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術(shù)相比，CCD發(fā)展較晚，作為新型檢測(cè)器件，還存在一定的局限性。首先CCD沒(méi)法如PMT那樣每個(gè)通道都做優(yōu)化。其次，CCD在應(yīng)用中為了降低暗電流需要降溫，這與光學(xué)系統(tǒng)需要恒溫相矛盾。CCD目前還無(wú)法應(yīng)用一些高速采樣技術(shù)，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT，其次如何保證多塊CCD的一致性，以及處理多塊CCD之間的接收空白區(qū)，也是一個(gè)問(wèn)題。此外，當(dāng)前CCD技術(shù)已經(jīng)可以滿足中端分析應(yīng)用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長(zhǎng)期精度方面和PMT還是有差距。

       其實(shí)很明顯的一個(gè)概念，就是實(shí)驗(yàn)室的儀器往往是采購(gòu)的PMT，普通的廠家CCD就夠了。

CCD和PMT差別

       雖然目前CCD還有一些不足之處，但是大家認(rèn)為CCD在光電直讀光譜儀中的應(yīng)用是值得期待的。PMT到現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展60多年了，是一種經(jīng)典成熟的技術(shù)。而CCD技術(shù)正處于飛速的發(fā)展變化之中，可以預(yù)期CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)技術(shù)很快會(huì)應(yīng)用于CCD當(dāng)中，這些技術(shù)的不斷發(fā)展會(huì)促使CCD發(fā)展到更高的水平。近些年CCD器件發(fā)展已經(jīng)相當(dāng)成熟，能夠滿足一般的分析要求，針對(duì)細(xì)分市場(chǎng)，各種特殊用途的CCD不斷產(chǎn)生。CCD與PMT結(jié)合是目前解決全譜檢測(cè)并滿足微量和痕量分析的最優(yōu)選擇，但同時(shí)滿足兩種類(lèi)型檢測(cè)器的采樣控制和系統(tǒng)的完美結(jié)合目前仍然是該類(lèi)儀器的制造難點(diǎn)。
       所以說(shuō)，CCD和PMT的存在，在目前為止都是合理且必要，而最新的COMS技術(shù)也在進(jìn)入市場(chǎng)。對(duì)于客戶來(lái)說(shuō)，就是合理的選擇一款自己合適的儀器，不要人云亦云。
       創(chuàng)想儀器目前的儀器都是以CCD技術(shù)為主，COMS技術(shù)在籌備，并即將推出上市，敬請(qǐng)期待。