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RoHS檢測(cè)方法 X熒光光譜儀的檢測(cè)
發(fā)布時(shí)間：2023-05-17 09:14:22 點(diǎn)擊：4045
為應(yīng)對(duì)越來越嚴(yán)苛的RoHS相關(guān)法規(guī)
X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)
，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變
X射線熒光分析是一種物理分析方法
電子電氣產(chǎn)品 RoHS定量檢測(cè)
目前我國(guó)中小企業(yè)除選擇RoHS檢測(cè)儀檢測(cè)重金屬含量
另外，在RoHS法規(guī)中的多項(xiàng)指標(biāo)
僅測(cè)汞。按國(guó)家質(zhì)檢總局和認(rèn)監(jiān)委的《電子電氣產(chǎn)品中汞的測(cè)定原子熒光光譜法》，用原子熒光光譜儀配汞空心陰極燈
測(cè)鉛、鎘和鉻
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